東陽テクニカ米国子会社のTOYOTech LCC、シャープディスプレイテクノロジー株式会社及び本学との共同研究において、有機EL素子の超低輝度における挙動を調べる検査技術を開発しました。本技術は、有機EL素子に急激に電流が流れ始める電圧と発光開始電圧の差が素子の劣化に伴い大きくなることに着目して、この差を数値化するもので、長寿命化が要求される有機EL素子において、劣化や低輝度で発生する表示ムラの解析に活用でき、有機EL素子のさらなる性能向上に寄与します。

株式会社東陽テクニカプレスリリース

令和6年9月11日