表面・界面の構造と電子状態
１．デバイス動作環境下でのオペランド測定手法とその場測定手法の開発
動作中のデバイスにおける各分子材料の構造や電子状態を評価するために、デバイスの動作環境下での測定手法の開発を新たにスタートしました。一般的な測定では“観る”ことのできない状態を“観て”、デバイス物理の理解を深めることにより、デバイス特性の向上や新規デバイス開発につなげていきます。また、デバイス作製の途中の段階において、物質の構造や電子状態を非破壊で測定することのできる手法の開発についても行っていく予定です。各段階における状態を調べることで、各プロセスとデバイス性能との因果関係を明らかにし、高性能デバイスの開発を目指します。
２．デバイスにおける界面修飾の効果とそのメカニズムの解明
“The interface is the device.（界面はデバイスである）”はノーベル物理学賞受賞者であるHerbert Kroemerが言ったとされる言葉です。物質と物質との界面は新しいデバイスとなる可能性を秘めており、物質界面の精密な設計により、新しいメカニズムで動作するデバイスの開発を行います。また、そのメカニズムが正しいかどうかということについて多様な分析手法を用いて検証します。